产品中心
  • 三箱式冷热冲击试验箱 用途 :用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。
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  • 252L高低温度冲击试验用途:蓄温式冷热冲击试验机为待测品静置之冷、热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试、半导体、金属、化学、材料等测试设备。
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  • 冷热循环试验箱/冷热冲击箱/二槽式冷热冲击箱/温度冲击试验箱/冷热冲击试验箱/高低温冲击箱,贝尔试验设备有限公司-中国名优企业 用途:蓄温式冷热冲击试验机为待测品静置之冷、热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试、半导体、金属、化学、材料等测试设备
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  • 72L高低温冷热冲击试验箱型号:BE-CH-72A(B.D) 试验空间 W450XH400XD400mm;高低温冷热冲击试验箱 用途:蓄温式冷热冲击试验机为待测品静置之冷、热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试、半导体、金属、化学、材料等测试设备
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  • 冷热循环冲击试验箱用途:蓄温式冷热冲击试验机为待测品静置之冷、热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试、半导体、金属、化学、材料等测试设备。
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  • 三槽式冷热冲击试验箱为待测品静置之冷、热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试、半导体、金属、化学、材料等测试设备。
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  • 蓄温式冷热冲击试验机为待测品静置之冷、热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试、半导体、金属、化学、材料等测试设备。
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  • 冷热冲击箱为待测品静置之冷、热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试、半导体、金属、化学、材料等测试设备。
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  • 温度冲击试验箱为待测品静置之冷、热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试、半导体、金属、化学、材料等测试设备。
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  • 高低温冲击试验箱为待测品静置之冷、热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试、半导体、金属、化学、材料等测试设备。
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  • 小型冷热冲击试验箱为待测品静置之冷、热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试、半导体、金属、化学、材料等测试设备。
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